광 스펙트로미터 및 그것을 사용한 구조물 물리량 고속 측정 시스템(Physical quantity high speed measuring system of structure using optical spectrometer)
등록번호 1247575조회수 10
- 기술구분
- 국방특허기술
- 기술분야
- 전기/전자
- 상세분야
- 물리량 측정
- 등록일
- -
- 발명자
- 박찬익 | 김종헌 | 이봉완 | 서민성
기술 내용
본 발명은 광 스펙트로미터를 사용한 구조물 물리량 고속 측정 시스템에 관한 것으로, 전자기파의 영향을 받지 않는 빛을 이용하여 구조물(터널, 교량, 건축물 등)의 온도, 스트레인 등과 같은 물리적 변화량을 고속 측정하여 실시간으로 구조물의 변화를 모니터링 하는 측정 시스템으로써 광대역 광원, 광커플러, 광섬유 브래그 격자들, 광 스펙트로미터, 디지털 신호처리부(FPGA), 제어 및 신호검출 시스템으로 구성된다. 광 스펙트로미터는 광 회절격자와 복수개의 광 수신 다이오드 또는 다중파장분할장치와 다중파장 분할 장치의 각 채널에 광 수신 다이오드를 연결하여 구성한다. 이 시스템은 광 스펙트로미터로부터 출력되는 광 신호의 디지털 신호로 변환하고 병렬 처리하여 고속으로 광섬유 브래그 격자들의 반사 스펙트럼 측정이 가능하도록 하였다. 측정된 반사 스펙트럼의 분석을 통해 광섬유 브래그 격자들의 중심파장을 측정하여 구조물의 복수 지점에 대한 온도, 스트레인 등과 같은 물리량을 고속으로 측정한다.