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전기/전자

위성용 고-치수안정화 탑재체 구조물의 평면 열변형 발생 방지를 위한 열주기 시험용 치구

등록번호 -조회수 547

기술구분
국방일반기술
기술분야
전기/전자
상세분야
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등록일
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발명자
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첨부파일

기술 내용

1. 개요 - 치수 안정성을 필요로 하는 시험 대상체를 열주기 시험하기 위한 열주기 시험용 치구 - 시험 대상체의 재질에 상관없이 온도 변화에 의해 발생하는 치구의 평면상의 변화를 상쇄하는 장치

2. 특징 및 장점 - 고정밀 광학 장비의 우주 인증을 위한 열주기 시험에 사용 가능 - 시험 대상물의 재질와 상관없이 치구의 제작이 가능하여 비용 절감에 효과적임

3. 세부기술 - 열주기 시험 시 광학 탑재체의 마운트는 복합재료 구조체를 열변형을 모사해야 한다 - 치구의 열변형은 고치수 안전성 구조을 가진 광학 탑재체의 광학적 정렬을 손상시킬 수 있다. - 치구의 열변형을 상쇄하는 설계를 통해 이러한 문제에 대한 해결이 가능함 - 치구 중간에 얇은 플랙셔를 적용하여 온도 변화에 따른 열변형을 상쇄시킬 수 있음 - 치구의 마운트 위치는 고정 경계조건은 만들어주며, 두개의 외팔보 빔이 마주보는 위치에 플랙셔를 설치하여 평면상의 변형을 상쇄함