계층구조로 설계된 항공전자시스템용 다중모드 통합시험장치 및 그 방법
등록번호 10-1901525조회수 6
- 기술구분
- 국방특허기술
- 기술분야
- 전기/전자
- 상세분야
- 전기전자부품
- 등록일
- 2018/09/17
- 발명자
- 장우혁
기술 내용
-민수사업화명 : 계층구조로 설계된 항공전자시스템용 다중모드 통합시험
-개요 : 실장비 또는 모델 SW의 조합을 통해 검증 시험을 위한 다중모드를 형성함으로써 각 버스에 연결된 장비에 대한 개별 또는 통합 검증을 동시에 실행 가능한 통합시험 환경을 제공하기 위한, 계층구조로 설계된 항공전자시스템용 다중모드 통합시험 장치 및 그 방법에 관한 것이다.
-특징 : 실장비 또는 모델 SW의 조합을 통해 검증 시험을 위한 다중모드를 형성함으로써 각 버스에 연결된 장비에 대한 개별 또는 통합 검증을 동시에 실행 가능한 통합시험 환경을 제공할 수 있으며, 항공전자시스템의 각 서브시스템 혹은 다수 서브시스템들간 개별 혹은 통합 검증 시험을 동시에 수행함으로써, 검증 절차에 요구되는 시간을 현저하게 줄일 수 있고 또한, 1대의 통합시험장치로 여러 시험이 동시에 수행 가능한 다중모드 통합시험장치를 제공하여 시험 효율성을 향상시킴으로써, 검증 기간 동안 소요되는 시험 시간, 인력, 비용 등을 줄일 수 있음을 특징으로 한다.
-민수활용분야 : 항공전자시스템 검증 환경
-출원일 : 2017-09-11
-등록일 : 2018-09-17