광학소자 형상오차 분석 방법
등록번호 10-2653060조회수 9
- 기술구분
- 국방특허기술
- 기술분야
- 전기/전자
- 상세분야
- 전기/전자
- 등록일
- 2024/03/27
- 발명자
- -
기술 내용
-특허기술명 : 광학소자 형상오차 분석 방법
-산업기술분류 : 측정, 시험, 향해, 제어, 및 기타 정밀기기 제조업
-국방과학기술분류 : 센서-EO/IR 센서-EO/IR 광학계
-등록번호 : 10-2653060
-등록일 : 2024-03-27
-개요 : 매트랩을 활용한 광학소자의 형상오차 분석 방법